Автор: Кац А. М.
Другие авторы: Окулов В. И.
Основное заглавие: Методы теоретического исследования высокочастотной проводимости плазмы в полупроводниках при наличии дрейфа носителей заряда
Ответственность: М-во электрон. пром-сти СССР
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1968
Место издания: Москва
Издательство: Электроника
Объем: 59 с.
Cерия: Обзоры по электронной технике
Ключевые слова: Плазма; Диагностика (физ.); Методы исследования; Полупроводники;
ББК: 22.333.41
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1420602 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера