Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов — Самарская областная универсальная научная библиотека

Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов [Текст] : [сборник статей] / под общ. ред. Короткова В. П. - Москва : Изд-во стандартов, 1969. - 165 с. : черт. - (Труды НИИ метрологии вузов ; вып. 4). - Библиогр. в конце ст.

Основное заглавие: Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов

Сведения, относящ. к заглавию: [сборник статей]

Ответственность: под общ. ред. Короткова В. П.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1969

Место издания: Москва

Издательство: Изд-во стандартов

Объем: 165 с.

Серия: Труды НИИ метрологии вузов

Ключевые слова: Диоды; Полупроводниковые диоды

ББК: 32.852.2

Библиография: Библиогр. в конце ст.