Основное заглавие: Измерение толщины тонких пленок и покрытий
Сведения, относящ. к заглавию: обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958-1965 гг.
Ответственность: М-во электрон. пром-сти СССР ; сост. Александров А. А., Свиридов В. В.
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1966
Место издания: Москва
Издательство: [б. и.]
Объем: 34 с.
Cерия: Технология и организация производств) (Обзоры научно-технической литературы по электронике
Ключевые слова: Тонкие пленки; Измерения;
ББК: 31.234.16
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1331357 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера