Ефимов, И. Е. 
Надежнoсть интегральных пoлупрoвoдникoвых схем [Текст] / Ефимов И. Е., Кальман И. Г.; Мартынов В. И. - Москва : Изд-во стандартов, 1969. - 74 с. : черт. - (Надежность, качество). - Библиогр.: с. 72-73 (29 назв.).



Автор: Ефимов И. Е.

Другие авторы: Кальман И. Г.; Мартынов В. И.

Основное заглавие: Надежность интегральных полупроводниковых схем

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1969

Место издания: Москва

Издательство: Изд-во стандартов

Объем: 74 с.

Cерия: Надежность, качество

Ключевые слова: Микроэлектронные схемы; Интегральные схемы; Интегральные микросхемы;

ББК: 32.844.14+32.844.15-02

Библиография: Библиогр.: с. 72-73 (29 назв.)

1442155
Ефимов, И. Е. 
Надежнoсть интегральных пoлупрoвoдникoвых схем [Текст] / Ефимов И. Е., Кальман И. Г.; Мартынов В. И. - Москва : Изд-во стандартов, 1969. - 74 с. : черт. - (Надежность, качество). - Библиогр.: с. 72-73 (29 назв.).
ББК 32.844.14+32.844.15-02
1442155-кх; 1507700-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 1442155 кх Доступна -
2 1507700 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера