Автор: Долматова Татьяна Васильевна
Основное заглавие: Физика надежности интегральных полупроводниковых схем
Сведения, относящ. к заглавию: методы анализа причин отказов : (материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на Семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля продукции)
Ответственность: Политехн. музей [и др.] ; под ред. Бердичевского Б. Е.
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1978
Место издания: Москва
Издательство: Знание
Объем: 46 с.
Примечание: На тит. л. и обл. : Вып. 3
Ключевые слова: Полупроводниковые схемы; Надежность;
ББК: 32.844.15-02
Библиография: Библиогр.: с. 45
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1854243 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера