Автор: Ведерников Валерий Владимирович
Другие авторы: Горюнов Н. Н.; Чернышев А. А.
Основное заглавие: Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов
Сведения, относящ. к заглавию: материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества промышленных изделий
Ответственность: под науч. ред. Бердичевского Б. Е. ; Всесоюз. о-во "Знание" [и др.]
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1977
Место издания: Москва
Издательство: Знание
Объем: 44 с.
Ключевые слова: Полупроводниковые приборы; Надежность;
ББК: 32.852-022.2
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1829910 | кх | Доступна | - |