Автор: Васичев Борис Никитович
Основное заглавие: Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1977
Место издания: Москва
Издательство: Металлургия
Объем: 239 с.
Ключевые слова: Рентгеноспектральный анализ; Тонкие пленки; Микроанализ;
ББК: 22.371.26
Библиография: Библиогр.: с. 236-239
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1813971 | кх | Доступна | - |