Основное заглавие: Современное состояние растровой электронной микроскопии за рубежом
Физический носитель: текст
Год публикации: 1975
Место издания: Москва
Издательство: [ЦНИИТЭИприборостроения]
Объем: 69 с.
Cерия: Обзорная информация
Примечание: Авт. указаны на 2-й с. обл.
Ключевые слова: Электронные микроскопы; Иностранные конструкции;
ББК: 22.338.4
Библиография: Список лит.: с. 67-68 (22 назв.)
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1710578 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера