Растрoвая электрoнная микрoскoпия и рентгенoвский микрoанализ [текст] : в 2 книгах. 2 / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой. - Москва : Мир, 1984. - 351 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341; Предм. указ.: с. 342-346.



Основное заглавие: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Сведения, относящ. к заглавию: в 2 книгах

Ответственность: [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой

Физический носитель: текст

Год публикации: 1984

Место издания: Москва

Издательство: Мир

Объем: 351 с.

Ключевые слова: Электронная микроскопия; Рентгеноспектральный анализ; Рентгеноструктурный анализ;

ББК: 22.371.21

Библиография: Библиогр.: с. 318-341; Предм. указ.: с. 342-346

2113656
 
Растрoвая электрoнная микрoскoпия и рентгенoвский микрoанализ [текст] : в 2 книгах. 2 / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой. - Москва : Мир, 1984. - 351 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341; Предм. указ.: с. 342-346.
ББК 22.371.21
2113656-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же его копию, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2113656 кх Доступна -