Растрoвая электрoнная микрoскoпия и рентгенoвский микрoанализ [текст] : в 2 книгах. 1 / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - Авт. указаны на обороте тит. л.



Основное заглавие: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Сведения, относящ. к заглавию: в 2 книгах

Ответственность: [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой

Физический носитель: текст

Год публикации: 1984

Место издания: Москва

Издательство: Мир

Объем: 303 с.

Примечание: Авт. указаны на обороте тит. л.

Ключевые слова: Электронная микроскопия; Рентгеноспектральный анализ; Рентгеноструктурный анализ;

ББК: 22.371.21

2113655
 
Растрoвая электрoнная микрoскoпия и рентгенoвский микрoанализ [текст] : в 2 книгах. 1 / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; под ред. В. И. Петрова ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - Авт. указаны на обороте тит. л.
ББК 22.371.21
2113655-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2113655 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера