Основное заглавие: Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов
Ответственность: [В. П. Гольцев, Т. Т. Дедегкаев, А. М. Дергай и др.] ; под ред. В. Б. Нестеренко ; АН БССР, Ин-т ядер. энергетики
Физический носитель: текст
Год публикации: 1980
Место издания: Минск
Издательство: Наука и техника
Объем: 191 с.
Примечание: Авт. указаны на обороте тит. л.
Ключевые слова: Металлы; Рентгеноспектральный анализ; Электронная микроскопия;
ББК: 34.204.01
Библиография: Библиогр.: с. 182-190 (268 назв.)
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1942871 | кх | Доступна | - |