Практические метoды в электрoннoй микрoскoпии [текст] / [П. Дж. Гудхью, Б. Е. П. Бистон, Р. В. Хорн, Р. Маркхэм] ; под ред. О. М. Глоэра ; пер. с англ. под ред. В. Н. Верцнера. - Ленинград : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. - 375 с. : ил. - Авт. указаны в огл. - Библиогр. в конце глав.



Основное заглавие: Практические методы в электронной микроскопии

Ответственность: [П. Дж. Гудхью, Б. Е. П. Бистон, Р. В. Хорн, Р. Маркхэм] ; под ред. О. М. Глоэра ; пер. с англ. под ред. В. Н. Верцнера

Физический носитель: текст

Год публикации: 1980

Место издания: Ленинград

Издательство: Машиностроение, Ленинградское отделение

Объем: 375 с.

Примечание: Авт. указаны в огл.

Ключевые слова: Электронная микроскопия;

ББК: 22.338.4

Библиография: Библиогр. в конце глав

1966352
 
Практические метoды в электрoннoй микрoскoпии [текст] / [П. Дж. Гудхью, Б. Е. П. Бистон, Р. В. Хорн, Р. Маркхэм] ; под ред. О. М. Глоэра ; пер. с англ. под ред. В. Н. Верцнера. - Ленинград : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. - 375 с. : ил. - Авт. указаны в огл. - Библиогр. в конце глав.
ББК 22.338.4
1966352-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 1966352 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера