Автор: Раков Александр Васильевич
Основное заглавие: Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур
Физический носитель: текст
Год публикации: 1975
Место издания: Москва
Издательство: Советское радио
Объем: 175 с.
Ключевые слова: Тонкие пленки; Спектрофотометрия; Исследование;
ББК: 32.843.3
Библиография: Список лит.: с. 167-173
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1709965 | кх | Доступна | - |
2 | 1709281 | кх | Доступна | - |