Автор: Мюллер Э. В.
Другие авторы: Цонь Т. Ц.
Основное заглавие: Автономная микроскопия
Сведения, относящ. к заглавию: (принципы и применение)
Ответственность: пер. с англ. В. А. Алексеева [и др.] ; под ред. Л. П. Потапова
Физический носитель: текст
Год публикации: 1972
Место издания: Москва
Издательство: Металлургия
Объем: 360 с., 1 л. ил.
Примечание: Доп. тит. л.: Field ion microscopy. Erwin W. Muller and Tien Tzor Тsong
Ключевые слова: Ионная микроскопия;
ББК: 22.338.4
Библиография: Списки лит. в конце глав
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1603668 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера