Основное заглавие: Обеспечение надежности полупроводниковых устройств
Сведения, относящ. к заглавию: перевод с английского
Ответственность: под общ. ред. А. С. Савиной
Физический носитель: текст
Год публикации: 1964
Место издания: Москва
Издательство: Мир
Объем: 464 с.
Примечание: Авт. глав.: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др.
Ключевые слова: Полупроводниковые приборы; Надежность;
ББК: 32.852-022.2
Библиография: Библиогр.: в конце глав
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1237326 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера