Основное заглавие: Обеспечение надежности полупроводниковых устройств
Сведения, относящ. к заглавию: перевод с английского
Ответственность: под общ. ред. А. С. Савиной
Физический носитель: текст
Год публикации: 1964
Место издания: Москва
Издательство: Мир
Объем: 464 с.
Примечание: Авт. глав.: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др.
Ключевые слова: Полупроводниковые приборы; Надежность
ББК: 32.852-022.2
Библиография: Библиогр.: в конце глав
Находится: СОУНБ
Сведения об экземплярах, инвентарных номерах и статусе выдачи поступают из АБИС и появятся на карточке после подключения к ней. Заказ издания из фонда — на следующем этапе каталога.