Основное заглавие: Обеспечение надежности полупроводниковых устройств

Сведения, относящ. к заглавию: перевод с английского

Ответственность: под общ. ред. А. С. Савиной

Физический носитель: текст

Год публикации: 1964

Место издания: Москва

Издательство: Мир

Объем: 464 с.

Примечание: Авт. глав.: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др.

Ключевые слова: Полупроводниковые приборы; Надежность;

ББК: 32.852-022.2

Библиография: Библиогр.: в конце глав