Автор: Горлов М. И.
Другие авторы: Ануфриев Л. П.; Бордюжа О. Л.
Основное заглавие: Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства
Ответственность: Под ред. Горлова М. И.
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1997
Место издания: Минск
Издательство: Интеграл
Объем: 389,(1) с.
Ключевые слова: Интегральные микросхемы; Надежность; Полупроводниковые приборы;
ББК: 32.852-06+32.844.15-06
Библиография: Библиогр. в конце ч.
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2463062 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера