Основное заглавие: Методы контроля нарушенных слоев при механической обработке монокристаллов
Ответственность: [А. И. Татаренков, К. Л. Енишерлова, Т. Ф. Русак, В. Н. Гриднев]
Физический носитель: текст
Год публикации: 1978
Место издания: Москва
Издательство: Энергия
Объем: 64 с.
Cерия: Библиотека технолога радиоэлектронной аппаратуры
Ключевые слова: Полупроводники; Обработка; Технический контроль; Монокристаллы;
ББК: 32.843.3
Библиография: Список лит.: с. 59-63 (70 назв.)
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1862420 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера