Автор: Левин Б. М.
Основное заглавие: Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности
Сведения, относящ. к заглавию: основы метода и оптической профилографы
Физический носитель: текст
Год публикации: 1950
Место издания: Москва ; Ленинград
Издательство: Машгиз, [Ленинградское отделение]
Объем: 192 с.
Примечание: Перед загл. авт.: Б. М. Левин, канд. техн. наук
Ключевые слова: Детали машин; Качество; Обработка; Контроль; Профилографы
Библиография: Библиогр.: с. 189-190 (66 назв.)
Находится: СОУНБ
Сведения об экземплярах, инвентарных номерах и статусе выдачи поступают из АБИС и появятся на карточке после подключения к ней. Заказ издания из фонда — на следующем этапе каталога.