Автор: Ланно Мишель
Другие авторы: Бургуэн Жак
Основное заглавие: Точечные дефекты в полупроводниках
Сведения, относящ. к заглавию: теория
Ответственность: пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др. ; под ред. В. Л. Гуревича
Физический носитель: текст
Год публикации: 1984
Место издания: Москва
Издательство: Мир
Объем: 263 с.
Ключевые слова: Полупроводники; Дефекты;
ББК: 22.379.2
Библиография: Библиогр.: с. 7 (10 назв.), 248-253; Предм. указ.: с. 254-259
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2101117 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера