Вавилов, Виктор Сергеевич. 
Механизмы oбразoвания и миграции дефектoв в пoлупрoвoдниках [Текст] / Вавилов Виктор Сергеевич, Кив А. Е.; Ниязова О. Р. - Москва : Наука, 1981. - 368 с. : ил. - (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП). - Библиогр.: с. 332-360, 367-368.



Автор: Вавилов Виктор Сергеевич

Другие авторы: Кив А. Е.; Ниязова О. Р.

Основное заглавие: Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1981

Место издания: Москва

Издательство: Наука

Объем: 368 с.

Cерия: Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП

Ключевые слова: Полупроводники; Дефекты;

ББК: 22.379.2

Библиография: Библиогр.: с. 332-360, 367-368

2069885
Вавилов, Виктор Сергеевич. 
Механизмы oбразoвания и миграции дефектoв в пoлупрoвoдниках [Текст] / Вавилов Виктор Сергеевич, Кив А. Е.; Ниязова О. Р. - Москва : Наука, 1981. - 368 с. : ил. - (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП). - Библиогр.: с. 332-360, 367-368.
ББК 22.379.2
2069885-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2069885 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера