Автор: Глудкин Олег Павлович

Другие авторы: Черняев В. Н.

Основное заглавие: Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем

Сведения, относящ. к заглавию: [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов]

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1980

Место издания: Москва

Издательство: Энергия

Объем: 360 с.

Ключевые слова: Радиоэлектронная аппаратура; Интегральные микросхемы; Испытания;

ББК: 32.844.1я7

Библиография: Библиогр.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357