Автор: Глудкин Олег Павлович
Основное заглавие: Контроль качества и прогнозирование надежности интегральных узлов
Ответственность: Центр. правление НТО приборостроит. пром-сти им. С. И. Вавилова, Заоч. ин-т, Курсы повышения квалификации ИТР по микроминиатюризации в приборостроении
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1977
Место издания: Москва
Издательство: Машиностроение
Объем: 84 с.
Ключевые слова: Интегральные микросхемы; Технический контроль;
ББК: 32.844.15-06
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1833549 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера