Автор: Александров Леонид Наумович
Другие авторы: Зотов М. И.
Основное заглавие: Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках
Ответственность: отв. ред. Смирнов Л. С. ; АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1979
Место издания: Новосибирск
Издательство: Наука, Сиб. отд-ние
Объем: 159 с.
Ключевые слова: Полупроводники; Внутреннее трение; Дефекты
ББК: 22.379.2+22.379.22
Библиография: Библиогр.: с. 149-158
Находится: СОУНБ
Сведения об экземплярах, инвентарных номерах и статусе выдачи поступают из АБИС и появятся на карточке после подключения к ней. Заказ издания из фонда — на следующем этапе каталога.