Александров, Леонид Наумович. 
Внутреннее трение и дефекты в пoлупрoвoдниках [Текст] / Александров Леонид Наумович, Зотов М. И. ; отв. ред. Смирнов Л. С. ; АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1979. - 159 с. : ил. - Библиогр.: с. 149-158.



Автор: Александров Леонид Наумович

Другие авторы: Зотов М. И.

Основное заглавие: Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Ответственность: отв. ред. Смирнов Л. С. ; АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1979

Место издания: Новосибирск

Издательство: Наука, Сиб. отд-ние

Объем: 159 с.

Ключевые слова: Полупроводники; Внутреннее трение; Дефекты;

ББК: 22.379.2+22.379.22

Библиография: Библиогр.: с. 149-158

1927426
Александров, Леонид Наумович. 
Внутреннее трение и дефекты в пoлупрoвoдниках [Текст] / Александров Леонид Наумович, Зотов М. И. ; отв. ред. Смирнов Л. С. ; АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1979. - 159 с. : ил. - Библиогр.: с. 149-158.
ББК 22.379.2+22.379.22
1927426-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 1927426 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера