Спектрoскoпия и дифракция электрoнoв при исследoвании пoверхнoсти твердых тел [Текст] / Кулешов В. Ф., Кухаренко Ю. А., Фридрихов С. А. и др.; Отв. ред. Рамбиди Н. Г.; АН СССР, Прогр. ком. "Физика, химия и механика поверхности". - М. : Наука, 1985. - 288с. : ил. - (Физика, химия и механика поверхности). - Библиогр. в конце ч.



Основное заглавие: Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел

Ответственность: Кулешов В. Ф., Кухаренко Ю. А., Фридрихов С. А. и др.; Отв. ред. Рамбиди Н. Г.; АН СССР, Прогр. ком. "Физика, химия и механика поверхности"

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1985

Место издания: М.

Издательство: Наука

Объем: 288с.

Cерия: Физика, химия и механика поверхности

Ключевые слова: Дифракция; Поверхности; Спектроскопические исследования; Спектроскопия; Твердые тела; Электронная спектроскопия; Электроны;

ББК: 22.381.57

Библиография: Библиогр. в конце ч.

2144052
 
Спектрoскoпия и дифракция электрoнoв при исследoвании пoверхнoсти твердых тел [Текст] / Кулешов В. Ф., Кухаренко Ю. А., Фридрихов С. А. и др.; Отв. ред. Рамбиди Н. Г.; АН СССР, Прогр. ком. "Физика, химия и механика поверхности". - М. : Наука, 1985. - 288с. : ил. - (Физика, химия и механика поверхности). - Библиогр. в конце ч.
ББК 22.381.57
2144052-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2144052 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера