Тестовое диагностирование логических структур [Текст] / Пелипейко В. А., Анучин И. А., Жуляков В. К. и др.; Под ред. Пелипейко В. А.; АН ЛатвССР, Ин-т электрон. и вычисл. техники. - Рига : Зинатне, 1986. - 262с. : ил. - Библиогр.: с. 248-257. - Предм. указ.: с. 258-259.

Основное заглавие: Тестовое диагностирование логических структур

Ответственность: Пелипейко В. А., Анучин И. А., Жуляков В. К. и др.; Под ред. Пелипейко В. А.; АН ЛатвССР, Ин-т электрон. и вычисл. техники

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1986

Место издания: Рига

Издательство: Зинатне

Объем: 262с.

Ключевые слова: Вычислительные машины; Интегральные микросхемы; Логические элементы; Логическое программирование; Техническая диагностика; Цифровые вычислительные машины

ББК: 32.972.26

Библиография: Библиогр.: с. 248-257. - Предм. указ.: с. 258-259