Микрoанализ и растрoвая электрoнная микрoскoпия [Текст] / Фидибер Ж., Фонтен Ж., Викарио Э. и др.; Под ред. Морис Ф. и др.; Пер. с фр. Стельмаковой Г. Д.; Под ред. и с предисл. Боровского И. Б. - М. : Металлургия, 1985. - 408с. : ил. - Библиогр.: с. 10, 391-4-3. - Предм. указ.: с. 404-407.



Основное заглавие: Микроанализ и растровая электронная микроскопия

Ответственность: Фидибер Ж., Фонтен Ж., Викарио Э. и др.; Под ред. Морис Ф. и др.; Пер. с фр. Стельмаковой Г. Д.; Под ред. и с предисл. Боровского И. Б.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1985

Место издания: М.

Издательство: Металлургия

Объем: 408с.

Ключевые слова: Микроанализ; Микроскопия; Электронная микроскопия;

ББК: 24.441.1

Библиография: Библиогр.: с. 10, 391-4-3. - Предм. указ.: с. 404-407

2131859
 
Микрoанализ и растрoвая электрoнная микрoскoпия [Текст] / Фидибер Ж., Фонтен Ж., Викарио Э. и др.; Под ред. Морис Ф. и др.; Пер. с фр. Стельмаковой Г. Д.; Под ред. и с предисл. Боровского И. Б. - М. : Металлургия, 1985. - 408с. : ил. - Библиогр.: с. 10, 391-4-3. - Предм. указ.: с. 404-407.
ББК 24.441.1
2131859-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2131859 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера