Лазерные метoды исследoваний дефектoв в пoлупрoвoдниках и диэлектриках [Текст] / АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А. - М. : Наука, 1986. - 152,(1) с. : ил. ; 22 см. - (Труды Института общей физики ; Т. 4). - Библиогр. в конце ст.



Основное заглавие: Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках

Ответственность: АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1986

Место издания: М.

Издательство: Наука

Объем: 152,(1) с.

Cерия: Труды Института общей физики

Ключевые слова: Дефектоскопия; Дефекты; Диэлектрики; Лазерные методы; Полупроводники; Физика;

ББК: 22.379.1

Библиография: Библиогр. в конце ст.

2184555
 
Лазерные метoды исследoваний дефектoв в пoлупрoвoдниках и диэлектриках [Текст] / АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А. - М. : Наука, 1986. - 152,(1) с. : ил. ; 22 см. - (Труды Института общей физики ; Т. 4). - Библиогр. в конце ст.
ББК 22.379.1
2184555-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2184555 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера