Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках — Самарская областная универсальная научная библиотека

Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках [Текст] / АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А. - М. : Наука, 1986. - 152,(1) с. : ил. ; 22 см. - (Труды Института общей физики ; Т. 4). - Библиогр. в конце ст.

Основное заглавие: Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках

Ответственность: АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1986

Место издания: М.

Издательство: Наука

Объем: 152,(1) с.

Серия: Труды Института общей физики

Ключевые слова: Дефектоскопия; Дефекты; Диэлектрики; Лазерные методы; Полупроводники; Физика

ББК: 22.379.1

Библиография: Библиогр. в конце ст.