Основное заглавие: Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках

Ответственность: АН СССР, Ин-т общ. физики; Отв. ред. Маненков А. А.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1986

Место издания: М.

Издательство: Наука

Объем: 152,(1) с.

Cерия: Труды Института общей физики

Ключевые слова: Дефектоскопия; Дефекты; Диэлектрики; Лазерные методы; Полупроводники; Физика;

ББК: 22.379.1

Библиография: Библиогр. в конце ст.