Бургуэн, Жак. 
Тoчечные дефекты в пoлупрoвoдниках [Текст] : Эксперим. аспекты / Бургуэн Жак, Ланно М. ; Пер. с англ. Гальперина Ю. М. и др.; Под ред. и с предисл. Гуревича В. Л. - М. : Мир, 1985. - 304с. : ил. - Библиогр.: с. 9, 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300.



Автор: Бургуэн Жак

Другие авторы: Ланно М.

Основное заглавие: Точечные дефекты в полупроводниках

Сведения, относящ. к заглавию: Эксперим. аспекты

Ответственность: Пер. с англ. Гальперина Ю. М. и др.; Под ред. и с предисл. Гуревича В. Л.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1985

Место издания: М.

Издательство: Мир

Объем: 304с.

Ключевые слова: Дефекты; Полупроводники;

ББК: 22.379.23

Библиография: Библиогр.: с. 9, 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300

2159920
Бургуэн, Жак. 
Тoчечные дефекты в пoлупрoвoдниках [Текст] : Эксперим. аспекты / Бургуэн Жак, Ланно М. ; Пер. с англ. Гальперина Ю. М. и др.; Под ред. и с предисл. Гуревича В. Л. - М. : Мир, 1985. - 304с. : ил. - Библиогр.: с. 9, 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300.
ББК 22.379.23
2159920-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2159920 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера