Автор: Бургуэн Жак

Другие авторы: Ланно М.

Основное заглавие: Точечные дефекты в полупроводниках

Сведения, относящ. к заглавию: Эксперим. аспекты

Ответственность: Пер. с англ. Гальперина Ю. М. и др.; Под ред. и с предисл. Гуревича В. Л.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1985

Место издания: М.

Издательство: Мир

Объем: 304с.

Ключевые слова: Дефекты; Полупроводники;

ББК: 22.379.23

Библиография: Библиогр.: с. 9, 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300