Чернышев, Александр Алексеевич. 
Оснoвы надежнoсти пoлупрoвoдникoвых прибoрoв и интегральных микрoсхем [Текст] / Чернышев Александр Алексеевич - М. : Радио и связь, 1988. - 254,[1]с. : ил. ; 17 см. - Библиогр.: с. 249-252. - ISBN 5-256-00042-X



Автор: Чернышев Александр Алексеевич

Основное заглавие: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1988

Место издания: М.

Издательство: Радио и связь

Объем: 254,[1]с.

ISBN: 5-256-00042-X

Ключевые слова: Интегральные микросхемы; Надежность; Полупроводниковые приборы;

ББК: 32.852-022.2+32.844.15-02

Библиография: Библиогр.: с. 249-252

32.852
Ч-49
Чернышев, Александр Алексеевич. 
Оснoвы надежнoсти пoлупрoвoдникoвых прибoрoв и интегральных микрoсхем [Текст] / Чернышев Александр Алексеевич - М. : Радио и связь, 1988. - 254,[1]с. : ил. ; 17 см. - Библиогр.: с. 249-252. - ISBN 5-256-00042-X
ББК 32.852-022.2+32.844.15-02
2241667-аб; 2241665-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же копию его фрагмента, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 2241667 аб Доступна -
2 2241665 кх Доступна -
Х

При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера