Автор: Чернышев Александр Алексеевич
Основное заглавие: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1988
Место издания: М.
Издательство: Радио и связь
Объем: 254,[1]с.
ISBN: 5-256-00042-X
Ключевые слова: Интегральные микросхемы; Надежность; Полупроводниковые приборы;
ББК: 32.852-022.2+32.844.15-02
Библиография: Библиогр.: с. 249-252
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2241667 | аб | Доступна | - |
2 | 2241665 | кх | Доступна | - |