Основное заглавие: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Ответственность: Сих М. П. и др.; Под ред. Бриггса Д., Сиха М. П.; Пер. с англ. под ред. Раховского В. И., Реза И. С.
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1987
Место издания: М.
Издательство: Мир
Объем: 598с.
Ключевые слова: Оже-спектроскопия; Поверхности; Поверхностные явления; Рентгеноэлектронная спектроскопия; Спектроскопия; Спектроскопические исследования; Фотоэлектронная спектроскопия;
ББК: 22.344.1
Библиография: Библиогр. в конце гл. - Указ. имен., хим. соединений, предм.: с. 581-592
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2211330 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера