Основное заглавие: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Ответственность: Сих М. П. и др.; Под ред. Бриггса Д., Сиха М. П.; Пер. с англ. под ред. Раховского В. И., Реза И. С.

Физический носитель: Текст

Год публикации: 1987

Место издания: М.

Издательство: Мир

Объем: 598с.

Ключевые слова: Оже-спектроскопия; Поверхности; Поверхностные явления; Рентгеноэлектронная спектроскопия; Спектроскопия; Спектроскопические исследования; Фотоэлектронная спектроскопия

ББК: 22.344.1

Библиография: Библиогр. в конце гл. - Указ. имен., хим. соединений, предм.: с. 581-592