Основное заглавие: Качество и надежность изделий
Ответственность: Всесоюз. о-во "Знание"; Политехн. музей; Гос. ком. СССР по упр. качеством продукции и стандартам; Союз науч. и инженер. о-в СССР
Физический носитель: Текст
Название части / раздела: Ускоренные испытания элементов и систем/ Карташов Г. Д. Элементы физико-статистической надежности интегральных микросхем/ Алексанян И. Т.
Год публикации: 1990
Место издания: М.
Издательство: Знание
Объем: 91с.
ISBN: 5-07-001401-3
Cерия: В помощь слушателям лекций Консультационного центра по качеству и надежности
Ключевые слова: Интегральные микросхемы; Качество; Надежность; Промышленная продукция;
ББК: 30.607
Библиография: Библиогр.: с. 39-41, 88-89
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2325453 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера