Автор: Садчиков Павел Иванович

Основное заглавие: Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели

Ответственность: Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники : (в помощь слушателям семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции) / Абрамов В. А. ; Политехн. музей, Гос. ком. СССР по стандартам, Всесоюз. совет НТО

Физический носитель: текст

Год публикации: 1979

Место издания: Москва

Издательство: Знание

Объем: 110 с.

Ключевые слова: Микроэлектронные схемы; Интегральные схемы; Расчет на надежность; Качество; Управление; Системные методы;

ББК: 32.844.15-02

Библиография: Библиогр. в конце статей