Автор: Афанасьев Александр Михайлович
Другие авторы: Александров П. А.; Имамов Р. М.
Основное заглавие: Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1989
Место издания: М.
Издательство: Наука
Объем: 151,(1)с.
ISBN: 5-02-014020-1
Примечание: Рез.: англ.
Ключевые слова: Анализ; Диагностика (физ.); Дифракция; Кристаллы; Рентгеновские лучи; Рентгенодифракционная диагностика; Рентгеноструктурный анализ;
ББК: 22.371.27
Библиография: Библиогр.: с. 146-151
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2300204 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера