Хейкер, Даниэль Моисеевич. 
Рентгенoвская дифрактoметрия мoнoкристаллoв / Хейкер Даниэль Моисеевич ; Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры. - Ленинград : Машиностроение, [Ленинградское отделение], 1973. - 256 с. : ил. - (Методы рентгеновского анализа ; вып. 2). - Библиогр.: с. 245-254.



Автор: Хейкер Даниэль Моисеевич

Основное заглавие: Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов

Ответственность: Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры

Год публикации: 1973

Место издания: Ленинград

Издательство: Машиностроение, [Ленинградское отделение]

Объем: 256 с.

Cерия: Методы рентгеновского анализа

Ключевые слова: Монокристаллы; Рентгеноструктурный анализ;

ББК: 24.216.5

Библиография: Библиогр.: с. 245-254

1640791
Хейкер, Даниэль Моисеевич. 
Рентгенoвская дифрактoметрия мoнoкристаллoв / Хейкер Даниэль Моисеевич ; Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры. - Ленинград : Машиностроение, [Ленинградское отделение], 1973. - 256 с. : ил. - (Методы рентгеновского анализа ; вып. 2). - Библиогр.: с. 245-254.
ББК 24.216.5
1640791-кх;
Находится: СОУНБ | Чтобы заказать это издание, а так же его копию, вам необходимо авторизоваться на нашем сайте.
№ Инвентарный
номер		 Сигла Статус Дата возврата
1 1640791 кх Доступна -