Автор: Хейкер Даниэль Моисеевич
Основное заглавие: Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов
Ответственность: Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры
Год публикации: 1973
Место издания: Ленинград
Издательство: Машиностроение, [Ленинградское отделение]
Объем: 256 с.
Cерия: Методы рентгеновского анализа
Ключевые слова: Монокристаллы; Рентгеноструктурный анализ;
ББК: 24.216.5
Библиография: Библиогр.: с. 245-254
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1640791 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера