Автор: Федотов Яков Андреевич
Другие авторы: Ефимов М. И.
Основное заглавие: Надежность полупроводниковых приборов
Сведения, относящ. к заглавию: материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции : [в 3-х вып.]
Ответственность: Всесоюз. о-во "Знание"
Физический носитель: текст
Название части / раздела: [Надежность полупроводниковых приборов / Федотов Яков Андреевич. Обеспечение объективности результатов испытаний полупроводниковых приборов на надежность] / Ефимов Михаил Ильич
Год публикации: 1971
Место издания: Москва
Издательство: Знание
Объем: 58 с.
Ключевые слова: Радиоэлектроника; Электроника; Полупроводниковые приборы;
ББК: 32.852-022.2
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 1544956 | кх | Доступна | - |
При использовании данного сайта, вы подтверждаете свое согласие на использование файлов «cookie» и других похожих технологий, а также платформы для связи с клиентами Jivo и сервиса «Яндекс. Метрика», «Яндекс Метрика для приложений» (AppMetrica), которое является частью политики ГБУК «СОУНБ» в отношении обработки персональных данных . Вы всегда можете отключить Cookie-файлы в настройках Вашего браузера