Автор: Валиев Руслан Зуфарович
Другие авторы: Вергазов А. Н.; Герцман В. Ю.
Основное заглавие: Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии
Ответственность: АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов
Физический носитель: Текст
Год публикации: 1991
Место издания: М.
Издательство: Наука
Объем: 230,[1]с.
ISBN: 5-02-000195-3
Ключевые слова: Кристаллография; Электронная микроскопия;
ББК: 22.371.21
Библиография: Библиогр.: с. 221-225
№ | Инвентарный номер |
Сигла | Статус | Дата возврата |
---|---|---|---|---|
1 | 2334845 | кх | Доступна | - |